材料的表征

布鲁克D2相射粉末x射线衍射仪

结构分析
相分析

该台式设备用于晶体材料的定量相分析和晶体结构鉴定. 通过小角x射线散射(SAXS)分析可以确定纳米结构和晶体尺寸.

ThermoFisher K-Alpha x射线光电子能谱(XPS)

表面分析

K-Alpha光谱仪提供了更好的光谱性能. 这种飞跃的结果是更快的分析时间, 改进的元素检测, 并且有可能获得更高分辨率的数据，从而产生更好的化学状态识别.

分析选项包括用于将空气敏感样品从手套箱移动到系统的真空传输模块, 倾斜模块用于ARXPS数据采集. 配备Thermo Scientific™优势数据系统, 完整的表面分析软件系统, K-Alpha具有一系列旨在优化数据解释的软件功能, 数据报告和可用性. K-Alpha XPS系统既能满足经验丰富的XPS分析人员的需求，也能满足技术新手的需求, 汇集高性能, 单色XPS和溅射深度分析, 具有智能自动化和直观控制.

Park XE70原子力显微镜(AFM) 又名扫描力显微镜(SFM)

表面分析

它通常提供超高分辨率的地形表面表征. 该图像是通过尖端轻叩样品表面获得的. 因此, 它也可用来电子游戏正规平台电学, 磁, 以及表面的机械性能. 

堀场微XploRA拉曼光谱仪

光学分析
结构分析

它是一种非破坏性的指纹化学分析技术，可以提供化学结构的详细信息, 相位与多态性, 内在应力/应变, 结晶度和分子相互作用. 测量是基于光与材料内化学键的相互作用.

布鲁克顶点80v傅立叶变换红外光谱(FTIR)

光学分析
吸收分析
结构分析

红外光谱学是基于分子吸收其结构特征的特定频率这一事实. 这些吸收与键的强度有关. 由于傅里叶变换的改进, FTIR变成了物质指纹的即时选择工具. ATR附件是为非图像测量准备的，这是非常用户友好的.

NETZSCH差示扫描量热计(DSC) 214 Polyma

热分析
相分析

它精确地测量热容, 聚合物或液晶的相变和氧化稳定性, 这能让我们理解非晶态和晶体的行为, 多晶和共晶转变, 固化和固化程度, 以及许多其他的材料特性. 该设备可以在宽的测量范围内加热高达500 K/min和冷却200 K/min. 

NETZSCH同步热分析(STA) 449 F1木星/四极杆质谱仪(QMS) 403

热分析
相分析

STA是指在一台仪器上同时应用热重法(TGA)和DSC对同一样品进行分析.  钨加热元件允许在氦气氛下从室温到2000°C和高真空测量从400°C到2000°C的测量. QMS耦合用于演化气体分析.

发现动态机械分析仪(DMA) 850

热分析
粒度分析
相分析

它用于测量材料在给定温度和/或时间下对正弦载荷的响应(变形).  常见的物理性质是玻璃化转变, 固体样品的弹性和粘度.

Agilent Cary 60 UV/VIS光谱仪(UV- VIS) 

光学分析
结构分析

Cary 60 UV-Vis分光光度计的波长范围为190 - 1100nm，可以在三秒内扫描. 我们的灵活紫外可见分光光度计可以配备长路径长度的比色管和固体样品传输附件. 当配备光纤探针时，它是远程紫外-可见吸收分析的理想选择. 样品附件包括一个试管溶液样品支架, 固体样品传输支架和光纤探头.